为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况，假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为：平均使用寿命μ。为100小时，标准差为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件，测得平均寿命为102小时，给定显著性水平α=0.05。为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高，下列说法正确的有( )。
A: 提出假设H。：μ≥100；H1：μ＜100
B: 提出假设H。：μ≤100；H1：μ＞100
C: 如果Z＞Zα ，则称样本均值`X与μ。的差异是显著的，这时拒绝H。
D: 检验统计量及所服从的概率分布为Z=(`X-μ。)/( σ/√n) ~ N(0,1)
A: 提出假设H。：μ≥100；H1：μ＜100
B: 提出假设H。：μ≤100；H1：μ＞100
C: 如果Z＞Zα ，则称样本均值`X与μ。的差异是显著的，这时拒绝H。
D: 检验统计量及所服从的概率分布为Z=(`X-μ。)/( σ/√n) ~ N(0,1)
举一反三
- 为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况，假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为：平均使用寿命μ0为100小时，标准差σ为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件，测得平均寿命为102小时，给定显著性水平α=0.05，为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高，下列说法正确的有（）。 A: 提出假设H0：μ≤100；H1：μ>100 B: 提出假设H0：μ≥100；H1：μ<100 C: 检验统计量及所服从的概率分布为[img=287x100]180379d38f680df.png[/img] D: 如果Z>Zα，则称[img=15x17]180379d3982ff5e.png[/img]与μ0的差异是显著的，这时拒绝H0 E: 检验结果认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高
- 为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况，假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为：平均使用寿命μ0为100小时，标准差σ为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件，测得平均寿命为102小时，给定显著性水平α=0.05，为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高，下列说法正确的有（）。 A: 提出假设H0：μ≤100；H1：μ>100 B: 提出假设H0：μ≥100；H1：μ<100 C: 检验统计量及所服从的概率分布为[img=287x100]18036e7e4a79f2c.png[/img] D: 如果Z>Zα，则称[img=15x17]18036e7e52b2d13.png[/img]与μ0的差异是显著的，这时拒绝H0 E: 检验结果认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高
- 为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况，假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为：平均使用寿命μ0为100小时，标准差σ为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件，测得平均寿命为102小时，给定显著性水平α=0.05，为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高，下列说法正确的有（）。 A: 提出假设H0：μ≤100；H1：μ>100 B: 提出假设H0：μ≥100；H1：μ<100 C: 检验统计量及所服从的概率分布为[img=287x100]1803035d554d843.png[/img] D: 如果Z>Zα，则称[img=15x17]1803035d5d98c1c.png[/img]与μ0的差异是显著的，这时拒绝H0 E: 检验结果认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高
- 为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况，假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为：平均使用寿命 为100小时，标准差 为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件，测得平均寿命为102小时，给定显著性水平α=0.05，为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高，下列说法正确的有（）。 A: 提出假设H0：μ≤100；H1：μ>100 B: 提出假设H0：μ≥100；H1：μ<100 C: 检验统计量及所服从的概率分布为 D: 如果 ，则称 与μ0的差异是显著的，这时拒绝H0 E: 检验结果认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高
- 为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况，假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为：平均使用寿命 为100小时，标准差 为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件，测得平均寿命为102小时，给定显著性水平α=0.05，为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高，下列说法正确的有（ ）。 A: 提出假设H0：μ≤100；H1：μ>100 B: 提出假设H0：μ≥100；H1：μ<100 C: 检验统计量及所服从的概率分布为 D: 如果 ，则称 与μ0的差异是显著的，这时拒绝H0 E: 检验结果认为该类型的电子元件的使用寿命确实有显著提高