关于磁共振成像中卷褶伪影产生原因的描述，正确的是
A: 检查部位超出FOV范围
B: 检查部位小于FOV范围
C: 常出现在频率编码方向
D: 扫描层面较厚
E: 层间干扰
A: 检查部位超出FOV范围
B: 检查部位小于FOV范围
C: 常出现在频率编码方向
D: 扫描层面较厚
E: 层间干扰
举一反三
- 关于磁共振成像中卷褶伪影产生原因的描述，正确的是（） A: 检查部位超出FOV范围 B: 检查部位小于FOV范围 C: 常出现在频率编码方向 D: 扫描层面较厚 E: 层间干扰
- 关于卷褶伪影的描述，不正确的是（）。 A: 使用无相位卷褶可去除此伪影 B: 被检部位的解剖结构大小超出FOV范围 C: 加大FOV可去除此伪影 D: 主要发生于相位编码方向 E: 将检查部位的最小直径方向摆在频率编码方向上
- 关于卷褶伪影的叙述，正确的是（） A: 卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致 B: 卷褶伪影主要发生在频率编码方向上 C: 变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影 D: 施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影 E: 增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
- 关于卷褶伪影的叙述，正确的是（） A: A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致 B: B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上 C: C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影 D: D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影 E: E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
- 有关磁共振成像中卷褶伪影的产生原因，正确的是（） A: 检查部位超出扫描野 B: 检查部位小于扫描野 C: TR时间太长 D: TE时间太长 E: TR时间太短