探针卡是晶圆测试重要的材料,对测试结果起到重要作用。当探针卡使用次数过多会影响扎针测试结果。过多使用探针卡的表现有( )。
A: 探针针尖过短
B: 探针针尖变粗
C: 探针针尖变细
D: 探针针尖断裂
A: 探针针尖过短
B: 探针针尖变粗
C: 探针针尖变细
D: 探针针尖断裂
举一反三
- 晶圆测试是利用测试测试机台、探针台、探针卡之间的组合来测试晶圆上每一个芯片。 A: 正确 B: 错误
- 中国大学MOOC: 晶圆测试是利用测试测试机台、探针台、探针卡之间的组合来测试晶圆上每一个芯片。
- ( )可以实现探针测试卡的探针和晶圆的每个晶粒上的测试模块之间一一对应。 A: 测试机 B: 探针台 C: 塑封机 D: 真空包装机
- 在全自动探针台上进行扎针调试时，若发现探针整体偏移，则对应的处理方式是：( )。 A: 利用摇杆微调扎针位置 B: 相关技术人员手动拨针，使探针移动至相应位置 C: 更换探针测试卡D、调节扎针深度
- 探针测试卡的电路板部分与测试机连接，上部是以金属合金制成的探针，探针通过与晶圆上的[br][/br]焊点接触，从而直接收集晶圆的输入信号或测试输出值。