单晶硅的电阻率测试可采用两探针法和四探针法。
对
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举一反三
内容
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170.单晶硅生长结束后，用四探针技术测量单晶硅锭的电阻率。
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下列选项中,能够测试单晶硅棒的电阻率的方法是: A: 热探针法 B: 四探针法 C: 光电导衰减法 D: 化学腐蚀法
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四探针法测试时双配置的优点：探针可以朝向任何方向，____________，自校正探头间距的变化。
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最常用于测试半导体材料电阻率的方法是（）。 A: 四探针法 B: 范德堡法 C: 扩展电阻法 D: 两探针法
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单晶硅的导电类型测量可采用热探针法。