提高探头频率，减少晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。
对
举一反三
内容
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超声波检测中，通常锻件和钢板的探测用直探头，焊缝及热影响区的探测用斜探头，近表面缺陷的探测用双晶探头。
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同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比，近场区长度与晶片面积成正比。
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频率高的探头容易产生宽度窄的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。 A: 低 B: 高 C: 不太高 D: 以上均可
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10.同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比,近场区长度与晶片面积成正比。( ) A: √ B: ×
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在超声探伤中，当探测表面不平整、曲率较大时，为了减少耦合损失宜选用小晶片探头。