利用X线使半导体材料产生空穴-电子对的特性,进行X线检测的探测器是( )。
A: 非晶硒平板探测器
B: 非晶硅平板探测器
C: 多丝正比室探测器
D: CCD摄像机型探测器
A: 非晶硒平板探测器
B: 非晶硅平板探测器
C: 多丝正比室探测器
D: CCD摄像机型探测器
举一反三
- 以下探测器采用线扫描成像技术的有( )。 A: 非晶硒平板探测器 B: 非晶硅平板探测器 C: 多丝正比室气体探测器 D: 闪烁晶体光电二极管线阵探测器 E: 固态半导体CMOS线阵探测器
- 能将X线直接转换成电信号的是（） A: 非晶硅平板探测器 B: 非晶硒平板探测器 C: CCD平板探测器 D: 影像板
- 直接将通过的X线转换成数字电信号的探测器是( ) A: 稀土陶瓷探测器 B: I.I+光学系统+摄像机 C: CCD探测器 D: 非晶硅平板探测器 E: 非晶硒平板探测器
- 能将X线直接转换成电信号的是( ) A: 非晶硅平板探测器 B: IP板 C: CCD平板探测器 D: 非晶硒平板探测器 E: 胶片
- 根据探测器的不同DR可分为：非晶 型 平板探测器型、非晶 型 平板探测器型多丝正比室扫描型和CCD摄像机型四种