• 2022-06-18
    金属丝应变片在测量构件的应变时,电阻的相对变化主要由()来决定的。
    A: 贴片位置的温度变化
    B: 电阻丝几何尺寸的变化
    C: 电阻丝材料的电阻率变化
    D: 电阻丝处湿度变化
  • B

    内容

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      金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起电阻的相对变化主要由()。 A: 贴片位置的温度变化 B: 电阻丝几何尺寸的变化 C: 电阻材料的电阻率的变化 D: 电阻截面积

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      金属丝应变片在测量构件的应变时,电阻的相对变化主要由(D )来决定的() A: 贴片位置的温度变化 B: 电阻丝材料的电阻率变化 C: 外接导线的变化 D: 电阻丝几何尺寸的变化

    • 2

      半导体电阻应变片在测量试件的应变时,电阻的相对变化主要由( )来决定的。 A: 贴片位置的温度变化 B: 电阻丝几何尺寸的变化 C: 外接导线的变化 D: 电阻丝材料的电阻率变化

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      金属丝应变片在测量试件的应变时,电阻的相对变化主要由( )来决定的。 A: 外接导线的变化 B: 贴片位置的温度变化 C: 电阻丝几何尺寸的变化 D: 电阻丝材料的电阻率变化

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      电阻应变片的电阻应变效应主要由()引起。 A: 电阻丝的几何尺寸的变化 B: 电阻丝电阻率的变化 C: 电阻丝温度系数 D: 电阻丝的结构