电子与物质相互作用，可产生（），（），（），特征X射线等用于观测样品形貌或成分的主要信号。
举一反三
- 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（） A: 背散射电子 B: 俄歇电子 C: 特征X射线
- 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1 nm厚表层成分的信号是 A: 二次电子 B: 背散射电子 C: 俄歇电子 D: 特征X射线
- 入射电子束和固体相互作用产生多种信号,用于形貌分析的信号有() A: 二次电子、特征X射线 B: 背散射电子、特征X射线 C: 二次电子、俄歇电子 D: 二次电子、背散射电子
- 电子束与固体样品相互作用，产生的物理信号中，可用于分析1nm厚表层成分的是 A: 二次电子 B: 特征X射线 C: 背散射电子 D: 俄歇电子
- 电子束与固体样品相互作用，产生的物理信号中，不能用于分析成分的是 A: 特征X射线 B: 二次电子 C: 背散射电子 D: 俄歇电子