下列测试方法中，能用于半导体材料表面形貌的检测方法是：
A: 拉曼光谱
B: 表面光压法
C: X射线衍射
D: 扫描电子显微镜
A: 拉曼光谱
B: 表面光压法
C: X射线衍射
D: 扫描电子显微镜
举一反三
- 能用于半导体材料少子寿命的检测方法是: A: 拉曼光谱 B: 表面光压法 C: X射线衍射 D: 扫描电子显微镜
- 对样品表面形貌进行表征采用的的是（ ） A: 扫描电子显微镜 B: X射线衍射 C: 拉曼光谱 D: 比表面积分析
- 可用于表征材料表面形貌的测试手段是()。 A: X射线衍射和扫描电子显微镜 B: 扫描电镜和光电子能谱仪 C: 波谱仪和X射线光电子谱仪 D: 原子力显微镜和扫描电子显微镜
- 材料中常用的表征方法XRD是指? A: X射线光电子能谱 B: X射线衍射 C: 俄歇电子能谱 D: 扫描电子显微镜
- 下列物理信号中用于观察材料表面形貌的是 A: 二次电子 B: 背散射电子 C: 特征X射线 D: 吸收电子