对样品表面形貌进行表征采用的的是（ ）
A: 扫描电子显微镜
B: X射线衍射
C: 拉曼光谱
D: 比表面积分析
A: 扫描电子显微镜
B: X射线衍射
C: 拉曼光谱
D: 比表面积分析
举一反三
- 下列测试方法中，能用于半导体材料表面形貌的检测方法是： A: 拉曼光谱 B: 表面光压法 C: X射线衍射 D: 扫描电子显微镜
- 可用于表征材料表面形貌的测试手段是()。 A: X射线衍射和扫描电子显微镜 B: 扫描电镜和光电子能谱仪 C: 波谱仪和X射线光电子谱仪 D: 原子力显微镜和扫描电子显微镜
- 如果要表征一个样品的形貌，可以采用以下哪种或者哪几种测试技术？ A: 扫描电子显微镜（SEM） B: X射线光电子能谱（XPS） C: 透射电子显微镜（TEM） D: X射线衍射分析（XRD） E: 红外光谱（IR）
- 能用于半导体材料少子寿命的检测方法是: A: 拉曼光谱 B: 表面光压法 C: X射线衍射 D: 扫描电子显微镜
- 以下哪个表征技术可以定性分析分子结构（ ） A: 拉曼光谱 B: 水分分析 C: 扫描电子显微镜 D: 比表面积分析