关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！ 2022-06-29 在半导体电学性能测试实验中，本实验测少子寿命的测量方法是（ ） 。 A: 高频光电导衰减法 B: 双电测四探针 C: 微波光电导衰减法 D: 离子注入 在半导体电学性能测试实验中，本实验测少子寿命的测量方法是（ ） 。A: 高频光电导衰减法B: 双电测四探针C: 微波光电导衰减法D: 离子注入 答案： 查看 举一反三 本实验测少子寿命的测量法是什么。 A: 微波光电导衰减法 B: 示波器法 C: 高频光电导衰减法 D: 秒表法 半导体电学性能测试实验中，测少子寿命时，光源电压调到0V。 半导体电学性能测试实验中，测少子寿命时，光源电压调到0V。 A: 正确 B: 错误 可以测量少子寿命的实验是 A: 霍尔效应 B: PN结的CV特性测试 C: 瞬态光电导测试 D: 四探针测试 在半导体电学性能测试实验中，测量电阻率的方法是（ ）。
