粉末法主要用于测定晶体结构，进行物相 、 分析，精确测定晶体的点阵参数以及材料的应力、结构、晶粒大小等
举一反三
- 创立的一个极重要和极有意义的科学分支——“X射线晶体结构分析”是确定物质的晶体结构、物相的定性和定量分析、精确测定点阵常数、研究晶体取向等的最有效、最准确的方法。 A: 劳厄 B: 巴拉克 C: 伦琴 D: 布拉格父子
- 创立的一个极重要和极有意义的科学分支——“X射线晶体结构分析”是确定物质的晶体结构、物相的定性和定量分析、精确测定点阵常数、研究晶体取向等的最有效、最准确的方法。 A: 巴克拉 B: 劳厄 C: 伦琴 D: 布拉格父子
- 用X射线法来测定物质的点阵参数，是通过测定某晶面的 来计算。所以立方晶体的点阵参数计算公式为 。（干涉面指数HKL）
- X射线因其波长与晶体晶格常数相当,常用于晶体结构的测定。
- 电子背散射衍射主要用于分析材料的（ ） A: 晶体结构 B: 晶体取向 C: 化学成分 D: A + B