X 射线荧光分析仪是利用射线轰击样品,测量所产生的( ),以确定样品中元素的[br][/br]种类与含量的仪器。
A: X 射线
B: 特征 X 射线
C: β 射线
D: γ 射线
A: X 射线
B: 特征 X 射线
C: β 射线
D: γ 射线
举一反三
- X 射线荧光分析仪是利用射线轰击样品，测量所产生的()，以确定样品中元素的 种类与含量的仪器。 A: X B: 特征 C: β D: γ
- X射线荧光就是（）的X射线 A: 光源发射的X射线 B: 透过被分析样品的X射线 C: 被分析样品在X射线照射下发出的X射线 D: 分析样品本身发出的X射线
- 利用 X 射线轰击样品,测量所产生的衍射 X 射线强度的空间分布,以确定样品的微观结构[br][/br]的仪器。X 射线衍射分析法是研究物质的( )的主要方法。 A: 体积 B: 质量 C: 物理状态 D: 微观结构 E: 晶体结构
- X射线衍射分析主要利用的是X射线与物质相互作用所产生的（）。 A: 不相干散射X射线 B: 荧光X射线 C: 相干散射X射线 D: 投射X射线
- X射线作用于薄样品一般产生的X射线信号有（）。 A: 荧光X射线 B: 相干散射X射线 C: 非相干散射X射线 D: 透射X射线