X 射线荧光分析仪是利用射线轰击样品，测量所产生的()，以确定样品中元素的 种类与含量的仪器。
A: X
B: 特征
C: β
D: γ
A: X
B: 特征
C: β
D: γ
举一反三
- X 射线荧光分析仪是利用射线轰击样品,测量所产生的( ),以确定样品中元素的[br][/br]种类与含量的仪器。 A: X 射线 B: 特征 X 射线 C: β 射线 D: γ 射线
- 利用 X 射线轰击样品,测量所产生的衍射 X 射线强度的空间分布,以确定样品的微观结构[br][/br]的仪器。X 射线衍射分析法是研究物质的( )的主要方法。 A: 体积 B: 质量 C: 物理状态 D: 微观结构 E: 晶体结构
- 电子探针仪的工作原理是用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的连续X射线，通过分析X射线的波长（或能量）可知元素种类，分析X射线的强度可知元素的含量。（ ）
- X射线荧光就是（）的X射线 A: 光源发射的X射线 B: 透过被分析样品的X射线 C: 被分析样品在X射线照射下发出的X射线 D: 分析样品本身发出的X射线
- X射线荧光光谱分析中，X光管产生的X射线波长应（ ）样品中待测元素的X射线波长时才能激发样品