XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。
举一反三
- （ ）用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主。 A: TEM B: SEM C: 电子探针EPMA D: XRD
- 表面形貌分析的手段包括（） A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） B: SEM和透射电镜（TEM） C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS） D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM
- 如果要表征一个样品的形貌，可以采用以下哪种或者哪几种测试技术？ A: 扫描电子显微镜（SEM） B: X射线光电子能谱（XPS） C: 透射电子显微镜（TEM） D: X射线衍射分析（XRD） E: 红外光谱（IR）
- X射线衍射分析是一种相分析方法。
- 下列不是热分析的四大支柱之一的是（） A: 差热分析 B: 热重分析 C: x射线衍射分析 D: 热机械分析