如果要表征一个样品的形貌，可以采用以下哪种或者哪几种测试技术？
A: 扫描电子显微镜（SEM）
B: X射线光电子能谱（XPS）
C: 透射电子显微镜（TEM）
D: X射线衍射分析（XRD）
E: 红外光谱（IR）
A: 扫描电子显微镜（SEM）
B: X射线光电子能谱（XPS）
C: 透射电子显微镜（TEM）
D: X射线衍射分析（XRD）
E: 红外光谱（IR）
举一反三
- 材料中常用的表征方法XRD是指? A: X射线光电子能谱 B: X射线衍射 C: 俄歇电子能谱 D: 扫描电子显微镜
- 可用于表征材料表面形貌的测试手段是()。 A: X射线衍射和扫描电子显微镜 B: 扫描电镜和光电子能谱仪 C: 波谱仪和X射线光电子谱仪 D: 原子力显微镜和扫描电子显微镜
- 表面形貌分析的手段包括（） A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） B: SEM和透射电镜（TEM） C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS） D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM
- 扫描电子显微镜中可以用于成分分析的信号包括 A: 俄歇电子 B: 特征X射线 C: 背散射电子 D: 吸收电子 E: 透射电子
- 对样品表面形貌进行表征采用的的是（ ） A: 扫描电子显微镜 B: X射线衍射 C: 拉曼光谱 D: 比表面积分析